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Vortrag auf der Embedded Testing am 21.06.17 um 11:15

Thema:

Aus einem reduzierten UML – Modell gleichzeitig SW-Code und Testfälle erzeugen –Ergebnisse des Embedded4You Kooperationsprojekts: ReTeC (Reduction of Test Complexity)

Abstract:

Um teure Fehler durch eine mangelnde Testabdeckung zu vermeiden und gleichzeitig effizient Software zu entwickeln, sollten möglichst früh Fehler entdeckt  werden.  Ziel ist es dadurch weitestgehend fehlerfreie Software ausliefern zu können.

Um diese Herausforderung zu bewältigen, wird ein völlig neuer ganzheitlicher modellbasierter Ansatz für die Entwicklung und den Test von Eingebetteten Systemen vorgestellt. Codegenerierung und Testfallerzeugung aus ein und demselben Modell.

Dazu entsteht zum einen über Modelltransformationen und Codegeneratoren übersetzbarer Code für das Zielsystem (Simulation/reale Hardware). Zum anderen wird aus demselben Modell (aus dem Bereich der Testbeschreibung) der Test-Code erzeugt. Beide Teile (Funktions- und Test-Code) werden anschließend automatisch gegeneinander verifiziert (SIL oder HIL). Dieses wird im Vorfeld auf Modellebene bereits durchgeführt (MIL). In Summe kann damit eine merkliche Reduktion der erzeugten Testfälle erreicht werden.

Der Vortrag richtet sich an Entscheider, Teamleiter und Entwickler, die dem MDSE und dem mbT bisher eher kritisch gegenüberstehen, jedoch die Wichtigkeit sehen.

Es werden die derzeitigen Schwachpunkte bei der automatischen Testfallgenerierung aus Modellen und die damit verbundene Problematik der Explosion der resultierenden Testfälle aufgezeigt. Hierzu wird durch den integrierten Ansatz eine mögliche Lösung dieser Herausforderung vorgestellt.

Weitere Informationen: www.embedded-testing.de